介電常數(shù)測(cè)試儀  GDAT-A

根據(jù)靜電學(xué)的研究成果， 真空中一個(gè)孤立的電荷q 會(huì)在其周圍產(chǎn)生電場(chǎng)E，當(dāng)另外的一個(gè)試驗(yàn)電荷q0 進(jìn)入到該電場(chǎng)中時(shí)會(huì)受到電場(chǎng)力的作用。由電荷q 所產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度為：

　　其中， ε₀為真空中的介電常數(shù)；r 為距離點(diǎn)電荷q 的徑向距離。一般來說，電場(chǎng)強(qiáng)度是一個(gè)矢量。試驗(yàn)電荷q0 在距電荷q的距離為r 的點(diǎn)上受到的電場(chǎng)力為：

　　根據(jù)力的反作用性質(zhì)，電荷q 也同樣受到試驗(yàn)電荷q0所產(chǎn)生的電場(chǎng)的力的作用且作用力的大小相等方向相反。根據(jù)式(1) 可知，真空中的介電常數(shù)ε₀表征了孤立電荷q 在給定的距離r 上產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度的大小。如果將式(1) 中的真空條件換為某種電介質(zhì)， 則同樣的孤立電荷q 所產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度將可表示為：

　　其中，ε為該種電介質(zhì)的介電常數(shù)。在實(shí)際應(yīng)用中，人們通常將真空中的介電常數(shù)ε₀選作一個(gè)參照，而將電介質(zhì)的介電常數(shù)ε與ε₀的比值定義成為一個(gè)無量綱的相對(duì)介電常數(shù)ε_r，如式(4) 所示：

　　由于真空是一個(gè)理想的電介質(zhì)模型( 沒有原子、分子) ，所以，在實(shí)際電介質(zhì)中由于束縛電荷效應(yīng)使原電荷q所產(chǎn)生的電場(chǎng)有所下降的情況在真空中不可能出現(xiàn)。因此, 針對(duì)實(shí)際電介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)Er 總是滿足大于或等于1。

　　由式(3) 可見，介電常數(shù)ε表示了電荷q 在電介質(zhì)中所產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度的大小的一個(gè)制約因素( 除了距離之外，也是*的制約因素) 。顯然，這種推論在靜電場(chǎng)的情況下是*可以被接受的，但是若要將這一推論直接應(yīng)用到交變電場(chǎng)的情況似乎還有些不充分。交變電場(chǎng)情況下電介質(zhì)的微觀表現(xiàn)機(jī)理與宏觀作用的研究取得了一些成果，但是仍然有待更加深入的研究，也是目前電介質(zhì)物理、量子物理的重要研究方向和內(nèi)容之一。

　　可以確認(rèn)的是電介質(zhì)的介電常數(shù)所表征的屬性在交變電場(chǎng)的情況下也會(huì)對(duì)交變電場(chǎng)產(chǎn)生影響。比如，交變電場(chǎng)在電介質(zhì)中的傳播速度會(huì)降低, 頻率不變，波長(zhǎng)會(huì)變短( 電磁傳播理論)并且介電常數(shù)越大，相應(yīng)的改變也會(huì)越大

介電常數(shù)測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測(cè)量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測(cè)量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

介電常數(shù)測(cè)試儀特點(diǎn)： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測(cè)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)   源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器和測(cè)微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

同樣，由測(cè)微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化，通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

標(biāo)簽：

介電常數(shù)測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀

產(chǎn)品保修售后服務(wù)承諾：

一、安裝調(diào)試：協(xié)助試驗(yàn)機(jī)的安裝，負(fù)責(zé)試驗(yàn)機(jī)的運(yùn)輸、調(diào)試。


二、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)機(jī)按訂貨技術(shù)附件進(jìn)行驗(yàn)收。終驗(yàn)收在買方進(jìn)行，對(duì)用戶提供的試樣進(jìn)行試驗(yàn)，并提供測(cè)試報(bào)告。


三、培訓(xùn)：安裝調(diào)試同時(shí)，在儀器操作現(xiàn)場(chǎng)一次性免費(fèi)培訓(xùn)操作人員2-3名，該操作人員應(yīng)是由需方選派的長(zhǎng)期穩(wěn)定的員工，培訓(xùn)后能夠?qū)υO(shè)備基本原理、軟件使用、操作、維護(hù)事項(xiàng)理解和應(yīng)用，使人員能夠獨(dú)立操作設(shè)備對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)、分析，同時(shí)能進(jìn)行基本的維護(hù)。


四、軟件升級(jí)：終生免費(fèi)提供新版本控制軟件。


五、保修：
1、設(shè)備保修兩年，終身售后服務(wù)，一年內(nèi)非人為損壞的零部件免費(fèi)更換，保修期內(nèi)接到用戶邀請(qǐng)后，zui遲響應(yīng)時(shí)間為2小時(shí)內(nèi)，在與用戶確認(rèn)故障后，我公司會(huì)在48小時(shí)內(nèi)派工程師到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行免費(fèi)服務(wù)，盡快查清故障所在位置和故障原因，并向用戶及時(shí)報(bào)告故障的原因和排除辦法。
2、保修期內(nèi)人為損壞的零部件按采購(gòu)（加工）價(jià)格收費(fèi)更換。
3、保修期外繼續(xù)為用戶提供技術(shù)服務(wù)，在接到用戶維修邀請(qǐng)后3天內(nèi)派工程師到達(dá)用戶現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行維修。并享有優(yōu)惠購(gòu)買零配件的待遇。　
4、傳感器過載及整機(jī)電路超壓損壞不在保修范圍內(nèi)。
六、售后管理：
我公司實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)化管理，實(shí)行客戶定期回訪制度，定期復(fù)查設(shè)備的工作情況，定期指導(dǎo)用戶對(duì)設(shè)備進(jìn)行保養(yǎng)和檢測(cè)，以便設(shè)備正常運(yùn)轉(zhuǎn)，跟蹤客戶的設(shè)備使用情況，以便及時(shí)對(duì)設(shè)備進(jìn)行維護(hù)